Advanced Computing in Electron Microscopy

Autor:	Kirkland, Earl J.
EAN:	9783030332594
Auflage:	003
Sachgruppe:	Chemie
Sprache:	Englisch
Seitenzahl:	368
Produktart:	Gebunden
Veröffentlichungsdatum:	10.03.2020

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Features in-depth coverage of numerical computation of electron microscopy images including multislice methodsCovers high resolution CTEM and STEM image interpretationAddresses the latest developments in the field from the last decadeIncludes updated appendices with code in OctaveAllows you to calculate images from first principles for specimens ranging from simple inorganic crystals to cryo-EM biological specimens