Analytical Techniques for Thin Films
| Autor: | K. N. Tu, R. Rosenberg |
|---|---|
| EAN: | 9781483218311 |
| eBook Format: | |
| Sprache: | Englisch |
| Produktart: | eBook |
| Veröffentlichungsdatum: | 22.10.2013 |
| Untertitel: | Treatise on Materials Science and Technology, Vol. 27 |
| Kategorie: | |
| Schlagworte: | X-ray electron beam ion beam photon beam thin films |
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Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses photon beam and X-ray techniques; electron beam techniques; and ion beam techniques. Materials scientists, materials engineers, chemical engineers, and physicists will find the book invaluable.
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