Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
| Autor: | Waseda, Yoshio |
|---|---|
| EAN: | 9783662146378 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 232 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 03.10.2013 |
| Untertitel: | Atomic-Scale Structure Determination |
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A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
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