CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
| Autor: | Yuan, Jiann-Shiun |
|---|---|
| EAN: | 9789811008825 |
| Auflage: | 001 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 112 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 21.04.2016 |
| Schlagworte: | Elektrotechnik Ingenieurwissenschaft - Ingenieurwissenschaftler Mikrowelle (Technik) |
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First book to address the effect of device reliability and process variations on the RF circuit performance degradationsPresent of all kinds RF circuits in the reliability examinationIncludes analytical equations, experimental data and simulation resultsIncludes supplementary material: sn.pub/extras
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