CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
| Autor: | Pavlov, Andrei Sachdev, Manoj |
|---|---|
| EAN: | 9789048178551 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 212 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 28.10.2010 |
| Untertitel: | Process-Aware SRAM Design and Test |
171,19 €*
Die Verfügbarkeit wird nach ihrer Bestellung bei uns geprüft.
Bücher sind in der Regel innerhalb von 1-2 Werktagen abholbereit.
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
Verwandte Artikel
Weitere Produkte vom selben Autor