CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
| Autor: | Andrei Pavlov, Manoj Sachdev |
|---|---|
| EAN: | 9781402083631 |
| eBook Format: | |
| Sprache: | Englisch |
| Produktart: | eBook |
| Veröffentlichungsdatum: | 01.06.2008 |
| Untertitel: | Process-Aware SRAM Design and Test |
| Kategorie: | |
| Schlagworte: | CMOS DOM RAM SRAM Transistor integrated circuit static-induction transistor |
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The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.
Prof. Sachdev has authored several successful books with Springer
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