Economic Analyses of the European Patent System

Stefan M. Wagner analyses problems associated with institutional changes (duration of patent examination and opposition mechanisms), the expansion of the patentable subject matter and organizational challenges for industrial patentees. The study is based on the empirical analysis of large scale datasets on European patents and employs advanced multivariate methods such as semi-parametric and panel-data regression methods.



Dr. Stefan M. Wagner ist wissenschaftlicher Assistent von Prof. Dietmar Harhoff, Ph.D., am Institut für Innovationsforschung, Technologiemanagement und Entrepreneurship der Universität München.

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