Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
| Autor: | Bhattacharya, Debashis Hayes, John P. |
|---|---|
| EAN: | 9781461288190 |
| Sachgruppe: | Informatik, EDV |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 176 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 26.09.2011 |
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