High-Resolution X-Ray Scattering
| Autor: | Baumbach, Tilo Holy, Vaclav Pietsch, Ullrich |
|---|---|
| EAN: | 9781441923073 |
| Auflage: | 002 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 428 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 12.12.2011 |
| Untertitel: | From Thin Films to Lateral Nanostructures |
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