| EAN: | 9783662519769 |
|---|---|
| Sachgruppe: | Physik, Astronomie |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 268 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Frenken, Joost W. M. Graafsma, Heinz Zhang, Xiao Feng Ziegler, Alexander |
| Veröffentlichungsdatum: | 23.08.2016 |
| Untertitel: | Across Spatial and Temporal Scales |
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Scientific status report on analytical techniques in nano-and surface sciences Presentation of the basics and applications of various surface and thin film analytical -techniques: Scanning Probe Microscopy, X-ray diffraction at synchrotron, Free-Electron-Laser sources, Ultra-fast TEM and Electron Diffraction, FIB/SEM, X-ray photoelectron spectroscopy Presentation of advanced techniques for bulk analysis: X-ray absorption spectroscopy, Time-Resolved Neutron Scattering Includes supplementary material: sn.pub/extras
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