Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics
| Autor: | He, Ming Lu, Toh-Ming |
|---|---|
| EAN: | 9781493943081 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 164 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 23.08.2016 |
| Untertitel: | Thermal and Electrical Stability |
106,99 €*
Die Verfügbarkeit wird nach ihrer Bestellung bei uns geprüft.
Bücher sind in der Regel innerhalb von 1-2 Werktagen abholbereit.
Presents a unified approach to understanding the diverse phenomena observed at metal-dielectric interfaces Features fundamental considerations in the physics and chemistry of metal-dielectric interactions Explores mechanisms of metal atom diffusion and metal ion drift in dielectrics Provides keys to understanding reliability in gigascale electronics Focuses on a dynamic area of current research that is a foundation of future interconnect systems, memristors, and solid-state electrolyte devices Includes supplementary material: sn.pub/extras
Verwandte Artikel
Weitere Produkte vom selben Autor