New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
| Autor: | Mitani, Tomoaki Shimizu, Kenichi |
|---|---|
| EAN: | 9783642261688 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 196 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 04.05.2012 |
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Presents a new technique to significantly improve in resolution and extent the applicational field of scanning electron microscopy Covers physics, sample preparation and technical aspects Offers many insights and hints based on the authors' excellent experimental experience Includes supplementary material: sn.pub/extras
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