Rastertunnelmikroskopie (RTM). Untersuchung und Analyse von Proben aus Graphit und Gold
| Autor: | Kemper, Marvin |
|---|---|
| EAN: | 9783668350007 |
| Auflage: | 001 |
| Sachgruppe: | Physik, Astronomie |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 28 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 05.12.2016 |
| Untertitel: | Versuchsprotokoll |
17,95 €*
Die Verfügbarkeit wird nach ihrer Bestellung bei uns geprüft.
Bücher sind in der Regel innerhalb von 1-2 Werktagen abholbereit.
Praktikumsbericht / -arbeit aus dem Jahr 2016 im Fachbereich Physik - Experimentalphysik, Note: 1,7, Bergische Universität Wuppertal, Veranstaltung: Fortgeschrittenen Praktikum Physik, Sprache: Deutsch, Abstract: Es handelt sich um das Protokoll zum Versuch "RTM - Die Rastertunnelmikroskopie" aus dem fortgeschrittenen Praktikum für Physiker. Mit einem Raster-Tunnelmikroskop ist es möglich, mithilfe einer atomar scharfen Spitze, die Oberfläche einer leitenden Probe mit atomarer Auflösung zu untersuchen. Dabei wird der Tunneleffekt der Elektronen ausgenutzt, um Informationen über die lokale Elektronendichte und die Rauheit der Oberfläche zu gewinnen. Es wurden Proben aus Graphit, sowie Gold untersucht und qualitativ analysiert.
Verwandte Artikel
Weitere Produkte vom selben Autor