| EAN: | 9783662532256 |
|---|---|
| Auflage: | 001 |
| Sachgruppe: | Physik, Astronomie |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 252 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Ishihara, Sumio Murakami, Youichi |
| Veröffentlichungsdatum: | 05.01.2017 |
| Schlagworte: | Arbeitsstoff Material Mikroskopie Spektroskopie Werkstoff |
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The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.
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