Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
| Autor: | Echlin, Patrick Fiori, Charles Goldstein, Joseph Joy, David C. Lifshin, Eric Lyman, Charles E. Newbury, Dale E. Romig Jr., Alton D. |
|---|---|
| EAN: | 9781461276531 |
| Auflage: | 002 |
| Sachgruppe: | Geowissenschaften |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 844 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 28.09.2011 |
| Untertitel: | A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists |
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