Structure Analysis of Advanced Nanomaterials
| Autor: | Oku, Takeo |
|---|---|
| EAN: | 9783110304725 |
| Sachgruppe: | Chemie |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 180 |
| Produktart: | Gebunden |
| Veröffentlichungsdatum: | 15.09.2014 |
| Untertitel: | Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy |
| Schlagworte: | Chemie (physikalisch) Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie Energie (physikalisch) Materialwissenschaft Nanotechnologie Physik / Chemie Physikalische Chemie Technologie / Nanotechnologie |
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High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
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