System-On-Chip Test Architectures
| Autor: | Stroud, Charles E Touba, Nur A Wang, Laung-Terng |
|---|---|
| EAN: | 9780123739735 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 896 |
| Produktart: | Gebunden |
| Veröffentlichungsdatum: | 01.11.2007 |
| Untertitel: | Nanometer Design for Testability Volume . |
| Schlagworte: | Computers - General Information |
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Written by a stellar team of field experts, this title is a comprehensive guide to new VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that allow VSLI designers, DFT practitioners, and students to master quickly System-on-Chip Test architectures, memory, and analog/mixed-signal designs.
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