Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
| Autor: | Benediktovich, Andrei Feranchuk, Ilya Ulyanenkov, Alexander |
|---|---|
| EAN: | 9783642381768 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 332 |
| Produktart: | Gebunden |
| Veröffentlichungsdatum: | 18.09.2013 |
| Untertitel: | Theory and Applications |
149,79 €*
Die Verfügbarkeit wird nach ihrer Bestellung bei uns geprüft.
Bücher sind in der Regel innerhalb von 1-2 Werktagen abholbereit.
Gives a state-of-the-art report of the understanding of X-ray scattering and diffractionContains theoretical methods for a wide range of X-ray materials researchIncludes detailed explanations of theoretical models and approachesIncludes supplementary material: sn.pub/extras
Verwandte Artikel
Weitere Produkte vom selben Autor