Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
| Autor: | Liu, Xiao Xu, Qiang |
|---|---|
| EAN: | 9783319005324 |
| Auflage: | 2013 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 124 |
| Produktart: | Gebunden |
| Veröffentlichungsdatum: | 27.06.2013 |
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Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key concepts and algorithms with real examplesIncludes supplementary material: sn.pub/extras
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