Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali
| Autor: | Sun, Tao Zhang, John |
|---|---|
| EAN: | 9786207393619 |
| Sachgruppe: | Wirtschaft |
| Sprache: | metaCatalog.groups.language.options.italian |
| Seitenzahl: | 88 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 17.04.2024 |
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Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre più spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo più adatto per un'applicazione è un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.
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