Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik
| Autor: | Schmidt, Olaf |
|---|---|
| EAN: | 9783867461948 |
| Auflage: | 002 |
| Sachgruppe: | Informatik, EDV |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 96 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 18.01.2013 |
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