Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
| Autor: | Canelas, António Manuel Lourenço Guilherme, Jorge Manuel Correia Horta, Nuno Cavaco Gomes |
|---|---|
| EAN: | 9783030415358 |
| Auflage: | 001 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 264 |
| Produktart: | Gebunden |
| Veröffentlichungsdatum: | 21.03.2020 |
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Describes a new yield estimation methodology to reduce the time impact caused by Monte Carlo simulations, enabling its adoption in analog integrated circuits sizing and optimization processes with population-based algorithmsEnables designers to reduce the number of redesign iterations, by considering the robustness of solutions at early stages of the analog IC design flow;Includes detailed background on automatic analog IC sizing and optimization
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