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Ihre Suche nach „Metrology Systems“ ergab 1 Treffer:
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Produktart
eBook (1)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Y Zhao, T Kramer, Robert Brown, Xun Xu (1)
Veröffentlichungsdatum
2011 (1)
Download
PDF
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology
Y Zhao, T Kramer, Robert Brown, Xun Xu
139,09 €*
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