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Ihre Suche nach „Scanning Probe Techniques“ ergab 1 Treffer:
Filter
Produktart
eBook (1)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger (1)
Veröffentlichungsdatum
2015 (1)
Download
PDF
Noncontact Atomic Force Microscopy
Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger
213,99 €*
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