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Zu "Semiconductor Testing" wurden 2 Produkte gefunden
Filter
Produktart
eBook (2)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel (1)
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen (1)
Veröffentlichungsdatum
2009 (1)
2010 (1)
Download
PDF
Advanced Test Methods for SRAMs
Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
96,29 €*
Download
PDF
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen
149,79 €*
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