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Ihre Suche nach „Statistical Analysis for Nanometer VLSI“ ergab 1 Treffer:
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Produktart
eBook (1)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu (1)
Veröffentlichungsdatum
2014 (1)
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PDF
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu
96,29 €*
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