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Ihre Suche nach „VLSI Testing and Diagnosis“ ergab 1 Treffer:
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Produktart
eBook (1)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty (1)
Veröffentlichungsdatum
2011 (1)
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PDF
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
96,29 €*
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