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Zu "reliability testing" wurden 2 Produkte gefunden
Filter
Produktart
eBook (2)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sulli (1)
Y. L. Tong (1)
Veröffentlichungsdatum
2009 (1)
2014 (1)
Download
PDF
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies,
Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sulli
166,99 €*
Download
PDF
Probability Inequalities in Multivariate Distributions
Y. L. Tong
54,95 €*
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