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Zu "Atomic force microscopy" wurden 3 Produkte gefunden
Filter
Produktart
eBook (3)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Gerd Kaupp (1)
Mauro Sardela (1)
Ning Xi, King Lai (1)
Veröffentlichungsdatum
2006 (1)
2011 (1)
2014 (1)
Download
PDF
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Gerd Kaupp
213,99 €*
Download
PDF
Practical Materials Characterization
Mauro Sardela
96,29 €*
Download
ePUB/PDF
Nano Optoelectronic Sensors and Devices
Ning Xi, King Lai
149,00 €*
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