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Ihre Suche nach „Dependability in devices“ ergab 1 Treffer:
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Produktart
eBook (1)
Preisspanne
Minimal
€
–
Maximal
€
Autor
Nobuyasu Kanekawa, Eishi H. Ibe, Takashi Suga, Yutaka Uematsu (1)
Veröffentlichungsdatum
2010 (1)
Download
PDF
Dependability in Electronic Systems
Nobuyasu Kanekawa, Eishi H. Ibe, Takashi Suga, Yutaka Uematsu
96,29 €*
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