Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
| Autor: | Echlin, Patrick |
|---|---|
| EAN: | 9781441946744 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 344 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 23.11.2010 |
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Identifies problems that all specimens present in examining their structure and analysis in the SEM Describes a series of protocols to ensure that a specimen is properly prepared once the particular problems are identified Guides the reader through a general approach to the problem before a particular procedure is applied to the requirements of a given sample Designed both as an introduction for the novice and as a guide for the practicing scanning microscopist
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