EAN: | 9781461421900 |
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Sachgruppe: | Technik |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 192 |
Produktart: | Gebunden |
Herausgeber: | Binev, Peter Dahmen, Wolfgang Vogt, Thomas |
Veröffentlichungsdatum: | 02.03.2012 |
Schlagworte: | Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie Nanotechnologie Technologie / Nanotechnologie |
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Focuses solely on the modeling of microscopy, not the instrumentationFirst book in the field since 1998Includes supplementary material: sn.pub/extras