Strain Effect in Semiconductors
Autor: | Nishida, Toshikazu Sun, Yongke Thompson, Scott E. |
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EAN: | 9781489983152 |
Sachgruppe: | Technik |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 364 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Veröffentlichungsdatum: | 20.11.2014 |
Untertitel: | Theory and Device Applications |
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Provides industry relevant applications for strained CMOS technology Discusses range of applications from planar (2D) to nano-wire (1D) devices Treats strain physics at both qualitative overview level as well as detailed fundamental physics Explains strain physics relevant to logic devices as well as strain-based MEMS Sensors and strain in optoelectronic devices Includes supplementary material: sn.pub/extras