Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
| Autor: | Chakrabarty, Krishnendu Peng, Ke Tehranipoor, Mohammad |
|---|---|
| EAN: | 9781489989529 |
| Sachgruppe: | Technik |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 232 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Veröffentlichungsdatum: | 28.11.2014 |
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Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and noise-aware methodologies Shows readers to use timing information for small-delay defect diagnosis, in order to increase the resolution of their current diagnosis flow Includes supplementary material: sn.pub/extras
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